Oprema
Vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom elektronov (FEG SEM)
Oprema je namenjena mikrostrukturni karakterizaciji materialov. Gre za vrhunsko aparaturo, ki omogoča slikovne ločljivosti nekaj nm, kvalitativno in kvantitativno kemijsko analizo z mikronskega področja z metodama EDXS in WDXS ter elektronsko litografijo.
Skrbnik opreme:
dr. Miran Čeh
Opremo uporabljajo šolani operaterji, ki lahko analize izvajajo tudi za druge raziskovalne organizacije. Cena je odvisna od zahtevnosti analiz.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1)
Legenda
Organizacije (1)
| št. |
Evidenčna št. |
Razisk. organizacija |
Kraj |
Matična številka |
Štev. publikacijŠtev. publikacij |
| 1. |
0106 |
Institut "Jožef Stefan" |
Ljubljana |
5051606000 |
95.638 |