Nalaganje ...
Oprema vir: ARIS

Vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom elektronov (FEG SEM)

Namembnost opreme
Oprema je namenjena mikrostrukturni karakterizaciji materialov. Gre za vrhunsko aparaturo, ki omogoča slikovne ločljivosti nekaj nm, kvalitativno in kvantitativno kemijsko analizo z mikronskega področja z metodama EDXS in WDXS ter elektronsko litografijo.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme: dr. Miran Čeh
Opremo uporabljajo šolani operaterji, ki lahko analize izvajajo tudi za druge raziskovalne organizacije. Cena je odvisna od zahtevnosti analiz.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
št. Evidenčna št. Naziv Obdobje Vodja Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.  P2-0084  Nanostrukturni materiali  1.1.2004 - 31.12.2008  dr. Spomenka Kobe  5.663 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.  0106  Institut "Jožef Stefan"  Ljubljana  5051606000  95.638 
Zgodovina ogledov
Priljubljeno