Nalaganje ...
Oprema
Mikroskop na atomsko silo AFM
Namembnost opreme
AFM mikroskop je namenjen preiskavi topografije površine trdnih vzorcev z visoko ločljivostjo. Možna je preiskava področij velikosti do 50 mikronov z natančnostjo 0,1 nm. Možna je analiza hrapavosti, porazdelitev magnetnega in električnega polja, litografija in meritev interakcijskih sil med iglo in podlago.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme:
dr. Janez Kovač
Uporaba je možna za zunanje uporabnike. Kontaktirati dr. Janeza Kovača.
Uporaba je možna za zunanje uporabnike. Kontaktirati dr. Janeza Kovača.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
| št. | Evidenčna št. | Naziv | Obdobje | Vodja | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | P2-0082 | 1.1.2004 - 31.12.2008 | 4.599 |
Organizacije (1)
| št. | Evidenčna št. | Razisk. organizacija | Kraj | Matična številka | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 0106 | Ljubljana | 5051606000 | 98.265 |