Nalaganje ...
Oprema
XPS spektrometer
Namembnost opreme
Preiskava površin in tankih plasti z rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo - XPS (ESCA). Spektrometer XPS omogoča kvantitativno analizo sestave površine in določitev valenčnega stanja, oziroma tipa kemijske vezi v plasti debeline 3 - 5 nm. Vzorci so lahko kovinski, oksidni, kompozitni, praškasti, keramični, polimerni... Možna je preiskava porazdelitve elementov po globini vzorca v smeri od površine proti notranjosti do globine okoli 200 nm.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme:
dr. Janez Kovač
Uporaba je možna za zunanje uporabnike. Kontaktirati dr. Janeza Kovača.
Uporaba je možna za zunanje uporabnike. Kontaktirati dr. Janeza Kovača.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
| št. | Evidenčna št. | Naziv | Obdobje | Vodja | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | P2-0082 | 1.1.2004 - 31.12.2008 | 4.529 |
Organizacije (1)
| št. | Evidenčna št. | Razisk. organizacija | Kraj | Matična številka | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 0106 | Ljubljana | 5051606000 | 95.638 |