Oprema vir: ARIS

Nizko-energijska ionska erozija materialov

Uredi
Namembnost opreme
Oprema je namenjena pripravi vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo (TEM). Nizka energija ionskega jedkanja omogoča pripravo vzorcev brez amorfne plasti na površini vzorca.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme: dr. Miran Čeh
Opremo uporabljajo šolani operaterji, ki lahko analize izvajajo tudi za druge raziskovalne organizacije. Cena je odvisna od zahtevnosti analiz.
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacij
1.  0106  Institut "Jožef Stefan"  Ljubljana  5051606000  97.814 
Zahtevana je potrditev
Zgodovina ogledov
Priljubljeno