Nalaganje ...
Oprema
Visokoločljivostni vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom, EDX sistemom in STEM detektorjem
Namembnost opreme
Visokoločljivostni vrstični elektronski mikroskop FEG SEM omogoča morfološko karakterizacijo različnih anorganskih in organskih materialov na nanometrskem nivoju, tudi pri zelo nizkih vzbujevalnih napetostih. Poleg tega omogoča mikroskop določevanje kemijske sestave, saj je mikroskop opremljen s sistemom EDX. Novo kvaliteto pa predstavlja detektor za preiskave vzorcev v presevnem načinu.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme:
dr. Miran Čeh
Vrstični elektronski mikroskop v okviru Centra za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo (CEMM) je dostopen na podlagi on-line rezervacijskega sistem vsem tistim operaterjem IJS, ki so uspešno opravili tečaj, ki ga brezplačno organizira in izvaja kader CEMM. Za tiste odseke IJS, druge raziskovalne in izobraževalne institucije in industrijske partnerje, ki nimajo svojih operaterjev, izvede zahtevane analize kader CEMM.
Vrstični elektronski mikroskop v okviru Centra za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo (CEMM) je dostopen na podlagi on-line rezervacijskega sistem vsem tistim operaterjem IJS, ki so uspešno opravili tečaj, ki ga brezplačno organizira in izvaja kader CEMM. Za tiste odseke IJS, druge raziskovalne in izobraževalne institucije in industrijske partnerje, ki nimajo svojih operaterjev, izvede zahtevane analize kader CEMM.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
| št. | Evidenčna št. | Naziv | Obdobje | Vodja | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | I0-0005 | 1.1.2015 - 31.12.2021 | 4.653 |
Organizacije (1)
| št. | Evidenčna št. | Razisk. organizacija | Kraj | Matična številka | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 0106 | Ljubljana | 5051606000 | 95.638 |