Nalaganje ...
Oprema
Sistem za skeniranje ionskega žarka
Namembnost opreme
To je sistem za skeniranje ionskega žarka , ki je v osnovi elektrostatsko lečje in omogoča skeniranje in tako enakomerno nanašanje ionskega žarka po ravnih vzorcih. Zasnovan je za zelo enakomerno implantacijo ionskega žarka z MeV energijami preko velikega ciljnega območja. To nam omogoča homogeno obstreljevanje vzorcev z MeV ioni in s tem kreacijo poškodb v kristalni rešetki.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme:
dr. Sabina Markelj
Uporabniki bodo lahko dostopali do opreme tako, da bodo predlagali, kaj bi zeleli implatirati ali obstreljevati. Način kontaktiranja je preko elektronskega sporočila sabina.markelj@ijs.si.
Uporabniki bodo lahko dostopali do opreme tako, da bodo predlagali, kaj bi zeleli implatirati ali obstreljevati. Način kontaktiranja je preko elektronskega sporočila sabina.markelj@ijs.si.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
| št. | Evidenčna št. | Naziv | Obdobje | Vodja | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | P2-0405 | 1.1.2019 - 31.12.2027 | 4.217 |
Organizacije (1)
| št. | Evidenčna št. | Razisk. organizacija | Kraj | Matična številka | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 0106 | Ljubljana | 5051606000 | 95.638 |