Nalaganje ...
Oprema vir: ARIS

MIKROSKOP JEOL JSM 6500 F - vrstični elektronski mikroskop z EDS/WDS/EBSD

Namembnost opreme
Sodobna raziskovalna oprema Analitski elektronski mikroskop s Schotkyjevim izvorom elektronov (FE)opremljen z EDS in WDS analitskima tehnikama, HKL -EBSD in BSE za raziskave materialov
Dostop do opreme
Skrbnik opreme: dr. Matjaž Godec
Izvajanje storitev po dogovoru
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (3) Legenda
št. Evidenčna št. Naziv Obdobje Vodja Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.  P2-0132  Fizika in kemija površin kovinskih materialov  1.1.2004 - 31.12.2008  dr. Monika Jenko  3.776 
2.  P2-0050  Kovinski materiali in tehnologije  1.1.2004 - 31.12.2008  dr. Matjaž Torkar  2.122 
3.  P2-0056  Vakuumska tehnika in materiali za elektroniko  1.1.2004 - 31.12.2008  dr. Janez Šetina  1.159 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.  0206  Inštitut za kovinske materiale in tehnologije  Ljubljana  5051622000  5.455 
Zgodovina ogledov
Priljubljeno