Oprema
Mikroskop na atomsko silo
Mikroskop na atomsko silo se uporablja za preiskovanje površinskih lastnosti materialov. Uporablja se za visoko-ločljivo slikanje topografije različnih materialov, možno je hkratno merjenje električnih in mehanskih lastnosti vzorcev. Meritve se lahko izvajajo na zraku ali v tekočinskem mediju in je primeren za slikanje bioloških vzorcev. Omogoča tudi spektroskopijo sil med površinami v različnih medijih.
Skrbnik opreme:
Za prvi dostop je potreben dogovor s skrbnikom, sledi uvajanje v delo z mikroskopom in uvedba v samostojno uporabo mikroskopa. Izučeni uporabniki dostopajo preko rezervacijskega sistema.
Organizacije (1)
| št. |
Evidenčna št. |
Razisk. organizacija |
Kraj |
Matična številka |
Štev. publikacijŠtev. publikacij |
| 1. |
0106 |
Institut "Jožef Stefan" |
Ljubljana |
5051606000 |
98.178 |