Oprema

Masni spektrometer sekundarnih ionov SIMS

Namembnost opreme

TOF–SIMS spektrometer na osnovi masne spektroskopije molekul s površine omogoča precizno analizo elemntne sestave in molekularne strukture površin, tankih plasti in faznih mej organskih in anorganskih trdih materialov, kot so: polimeri, biomateriali, polprevodniki, prevleke, barve, kovine, keramika, steklo, zdravila... Masna ločljivost instrumenta je okoli 10.000, lateralno ločljivostjo je okoli 100 nm in analizna globina 2-3 monoplasti.

Dostop do opreme

Skrbnik opreme: dr. Janez Kovač
Spletni naslov: https://www.ijs.si/ijsw/Znotraj%20hi%C5%A1e/Desno?action=AttachFile&do=get&tar get=ARRS_Evidenca_opreme_2021.xlsx
Uporaba je možna za zunanje uporabnike po predhodnem dogovoru. Kontaktirati dr. Janeza Kovača (janez.kovac@ijs.si, 01 477 3403)

Raziskovalni projekti ARIS (3) Legenda

št.	Evidenčna št.	Naziv	Obdobje	Vodja	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	L7-4009	Funkcionalizacija biomedicinskih vzorcev s termodinamsko neravnovesno plinsko plazmo	1.7.2011 - 30.6.2014	dr. Miran Mozetič	6.897
2.	L2-4225	Raziskave sinteze nanožic za regenerativne energijske celice	1.7.2011 - 30.6.2014	dr. Uroš Cvelbar	2.806
3.	J2-4287	Tankoplastne organsko-anorganske strukture za elektronske komponente	1.7.2011 - 30.6.2014	dr. Janez Kovač	3.177

Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda

št.	Evidenčna št.	Naziv	Obdobje	Vodja	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	P2-0082	Tankoplastne strukture in plazemsko inženirstvo površin	1.1.2009 - 31.12.2014	dr. Miran Mozetič	4.718

Organizacije (1)

št.	Evidenčna št.	Razisk. organizacija	Kraj	Matična številka	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	0106	Institut "Jožef Stefan"	Ljubljana	5051606000	90.834

Filtri

Masni spektrometer sekundarnih ionov SIMS

Zgodovina ogledov

Priljubljeno

Filtri

Masni spektrometer sekundarnih ionov SIMS

Zahtevana je potrditev

Zgodovina ogledov

Priljubljeno