Oprema

Mikroskop na atomsko silo AFM

Namembnost opreme

AFM mikroskop je namenjen preiskavi topografije površine trdnih vzorcev z visoko ločljivostjo. Možna je preiskava področij velikosti do 50 mikronov z natančnostjo 0,1 nm. Možna je analiza hrapavosti, porazdelitev magnetnega in električnega polja, litografija in meritev interakcijskih sil med iglo in podlago.

Dostop do opreme

Skrbnik opreme: dr. Janez Kovač
Spletni naslov: https://www.ijs.si/ijsw/Znotraj%20hi%C5%A1e/Desno?action=AttachFile&do=get&tar get=ARRS_Evidenca_opreme_2021.xlsx
Uporaba je možna za zunanje uporabnike. Kontaktirati dr. Janeza Kovača.

Raziskovalni projekti ARIS (3) Legenda

št.	Evidenčna št.	Naziv	Obdobje	Vodja	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	L7-4009	Funkcionalizacija biomedicinskih vzorcev s termodinamsko neravnovesno plinsko plazmo	1.7.2011 - 30.6.2014	dr. Miran Mozetič	6.897
2.	L2-4225	Raziskave sinteze nanožic za regenerativne energijske celice	1.7.2011 - 30.6.2014	dr. Uroš Cvelbar	2.806
3.	J2-4287	Tankoplastne organsko-anorganske strukture za elektronske komponente	1.7.2011 - 30.6.2014	dr. Janez Kovač	3.177

Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda

št.	Evidenčna št.	Naziv	Obdobje	Vodja	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	P2-0082	Tankoplastne strukture in plazemsko inženirstvo površin	1.1.2004 - 31.12.2008	dr. Anton Zalar	4.252

Organizacije (1)

št.	Evidenčna št.	Razisk. organizacija	Kraj	Matična številka	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	0106	Institut "Jožef Stefan"	Ljubljana	5051606000	90.834

Filtri

Mikroskop na atomsko silo AFM

Zgodovina ogledov

Priljubljeno

Filtri

Mikroskop na atomsko silo AFM

Zahtevana je potrditev

Zgodovina ogledov

Priljubljeno