Oprema

Nizko-energijska ionska erozija materialov

Namembnost opreme

Oprema je namenjena pripravi vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo (TEM). Nizka energija ionskega jedkanja omogoča pripravo vzorcev brez amorfne plasti na površini vzorca.

Dostop do opreme

Skrbnik opreme: dr. Miran Čeh
Spletni naslov: https://www.ijs.si/ijsw/Znotraj%20hi%C5%A1e/Desno?action=AttachFile&do=get&tar get=ARRS_Evidenca_opreme_2021.xlsx
Opremo uporabljajo šolani operaterji, ki lahko analize izvajajo tudi za druge raziskovalne organizacije. Cena je odvisna od zahtevnosti analiz.

Raziskovalni projekti ARIS (3) Legenda

št.	Evidenčna št.	Naziv	Obdobje	Vodja	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	J2-6705	Nanoplastna keramika in 2D urejene strukture nanodelcev	1.7.2004 - 30.6.2007	dr. Miran Čeh	4.399
2.	Z2-6621	Kvantitativna Z-kontrastna mikroskopija funkcijske keramike	1.7.2004 - 30.6.2006	dr. Spomenka Kobe	1.304
3.	Z1-6493	Nanostrukturne raziskave posebnih mej v mineralih	1.2.2004 - 30.1.2006	dr. Tadej Dolenec	892

Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda

št.	Evidenčna št.	Naziv	Obdobje	Vodja	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	P2-0084	Nanostrukturni materiali	1.1.2004 - 31.12.2008	dr. Spomenka Kobe	5.090

Organizacije (1)

št.	Evidenčna št.	Razisk. organizacija	Kraj	Matična številka	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	0106	Institut "Jožef Stefan"	Ljubljana	5051606000	90.834

Filtri

Nizko-energijska ionska erozija materialov

Zgodovina ogledov

Priljubljeno

Filtri

Nizko-energijska ionska erozija materialov

Zahtevana je potrditev

Zgodovina ogledov

Priljubljeno