Oprema

Vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom elektronov (FEG SEM)

Namembnost opreme

Oprema je namenjena mikrostrukturni karakterizaciji materialov. Gre za vrhunsko aparaturo, ki omogoča slikovne ločljivosti nekaj nm, kvalitativno in kvantitativno kemijsko analizo z mikronskega področja z metodama EDXS in WDXS ter elektronsko litografijo.

Dostop do opreme

Skrbnik opreme: dr. Miran Čeh
Spletni naslov: https://www.ijs.si/ijsw/Znotraj%20hi%C5%A1e/Desno?action=AttachFile&do=get&tar get=ARRS_Evidenca_opreme_2021.xlsx
Opremo uporabljajo šolani operaterji, ki lahko analize izvajajo tudi za druge raziskovalne organizacije. Cena je odvisna od zahtevnosti analiz.

Raziskovalni projekti ARIS (3) Legenda

št.	Evidenčna št.	Naziv	Obdobje	Vodja	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	J2-7133	Proizvodnja novih tankih filmov s pulzno lasersko abrazijo z 'in situ' kontrolo z elementno masno spektrometrijo	1.9.2005 - 31.8.2008	dr. Johannes Teun Van Elteren	1.866
2.	J2-6705	Nanoplastna keramika in 2D urejene strukture nanodelcev	1.7.2004 - 30.6.2007	dr. Miran Čeh	4.399
3.	Z2-6621	Kvantitativna Z-kontrastna mikroskopija funkcijske keramike	1.7.2004 - 30.6.2006	dr. Spomenka Kobe	1.304

Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda

št.	Evidenčna št.	Naziv	Obdobje	Vodja	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	P2-0084	Nanostrukturni materiali	1.1.2009 - 31.12.2014	dr. Spomenka Kobe	5.733

Organizacije (1)

št.	Evidenčna št.	Razisk. organizacija	Kraj	Matična številka	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	0106	Institut "Jožef Stefan"	Ljubljana	5051606000	90.834

Filtri

Vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom elektronov (FEG SEM)

Zgodovina ogledov

Priljubljeno

Filtri

Vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom elektronov (FEG SEM)

Zahtevana je potrditev

Zgodovina ogledov

Priljubljeno