Oprema

XPS spektrometer

Namembnost opreme

Preiskava površin in tankih plasti z rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo - XPS (ESCA). Spektrometer XPS omogoča kvantitativno analizo sestave površine in določitev valenčnega stanja, oziroma tipa kemijske vezi v plasti debeline 3 - 5 nm. Vzorci so lahko kovinski, oksidni, kompozitni, praškasti, keramični, polimerni... Možna je preiskava porazdelitve elementov po globini vzorca v smeri od površine proti notranjosti do globine okoli 200 nm.

Dostop do opreme

Skrbnik opreme: dr. Janez Kovač
Spletni naslov: https://www.ijs.si/ijsw/Znotraj%20hi%C5%A1e/Desno?action=AttachFile&do=get&tar get=ARRS_Evidenca_opreme_2021.xlsx
Uporaba je možna za zunanje uporabnike. Kontaktirati dr. Janeza Kovača.

Raziskovalni projekti ARIS (3) Legenda

št.	Evidenčna št.	Naziv	Obdobje	Vodja	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	L7-4009	Funkcionalizacija biomedicinskih vzorcev s termodinamsko neravnovesno plinsko plazmo	1.7.2011 - 30.6.2014	dr. Miran Mozetič	6.897
2.	L2-4225	Raziskave sinteze nanožic za regenerativne energijske celice	1.7.2011 - 30.6.2014	dr. Uroš Cvelbar	2.806
3.	J2-4287	Tankoplastne organsko-anorganske strukture za elektronske komponente	1.7.2011 - 30.6.2014	dr. Janez Kovač	3.177

Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda

št.	Evidenčna št.	Naziv	Obdobje	Vodja	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	P2-0082	Tankoplastne strukture in plazemsko inženirstvo površin	1.1.2004 - 31.12.2008	dr. Anton Zalar	4.252

Organizacije (1)

št.	Evidenčna št.	Razisk. organizacija	Kraj	Matična številka	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	0106	Institut "Jožef Stefan"	Ljubljana	5051606000	90.834

Filtri

XPS spektrometer

Zgodovina ogledov

Priljubljeno

Filtri

XPS spektrometer

Zahtevana je potrditev

Zgodovina ogledov

Priljubljeno