Filtri
cris logo
-
Novo iskanje Filtri
Izberi iz seznama
Prikazano od Prikaži več
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Za izvedeno iskanje ni na voljo rezultatov
Prikazano od
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Nalaganje rezultatov
Pridobivanje statističnih podatkov

Oprema vir: ARIS

Dvožarkovni laserski interferometer

Uredi
Namembnost opreme
Hkratne meritve elektromehanskih in električnih lastnosti tankih dielektričnih plasti in nanostrukturiranih materialov. Laserski žarek, ki zadane vzorec z zgornje in spodnje strani izloči vpliv upogibanja podlage. Sistem omogoča (i) hkratne meritve elektromehanskega raztezka in električne polarizacije pri velikem vzbujevalnem signalu, (ii) meritve piezoelektričnega koeficienta in dielektrične konstante pri majhnem vzbujevalnem signalu, tudi ob pritisnjeni dc napetosti in (iii) meritve utrujanja električnih in elektromehanskih lastnosti.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme:
Spletni naslov: https://www.ijs.si/ijsw/Znotraj%20hi%C5%A1e/Desno?action=AttachFile&do=get&tar get=ARRS_Evidenca_opreme_2021.xlsx
Dostop dovoljen po dogovoru, ni posebnih omejitev. Kontakt: dr. Vid Bobnar, (01) 477-3172, vid.bobnar@ijs.si.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
št. Evidenčna št. Naziv Obdobje Vodja Štev. publikacij
1.  P1-0125  Magnetna resonanca in dielektrična spektroskopija pametnih novih materialov  1.1.2015 - 31.12.2021  dr. Janez Dolinšek  3.974 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacij
1.  0106  Institut "Jožef Stefan"  Ljubljana  5051606000  90.834 
Zahtevana je potrditev
Zgodovina ogledov
Priljubljeno