Filtri
cris logo
-
Novo iskanje Filtri
Izberi iz seznama
Prikazano od Prikaži več
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Za izvedeno iskanje ni na voljo rezultatov
Prikazano od
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Nalaganje rezultatov
Pridobivanje statističnih podatkov

Oprema vir: ARIS

Okoljski vrstični elektronski mikroskop (ESEM) z veliko komoro, sistemom za analizo morfologije površin in EDX sistemom

Uredi
Namembnost opreme
Okoljski vrstični elektronski mikroskop (ESEM) omogoča morfološko in kemijsko karakterizacijo različnih anorganskih in organskih materialov. Mikroskop je opremljen z veliko komoro za vzorce, sistemom EDX in programsko opremo za 3D predstavitev morfologije površine. Omogoča tudi opazovanje vzorcev pri nizkem vakuumu (do 4000 Pa) in je kot tak primeren za opazovanje vlažnih vzorcev.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme: dr. Miran Čeh
Spletni naslov: https://www.ijs.si/ijsw/Znotraj%20hi%C5%A1e/Desno?action=AttachFile&do=get&tar get=ARRS_Evidenca_opreme_2021.xlsx
Vrstični elektronski mikroskop v okviru Centra za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo (CEMM) je dostopen na podlagi on-line rezervacijskega sistem vsem tistim operaterjem IJS, ki so uspešno opravili tečaj, ki ga brezplačno organizira in izvaja kader CEMM. Za tiste odseke IJS, druge raziskovalne in izobraževalne institucije in industrijske partnerje, ki nimajo svojih operaterjev, izvede zahtevane analize kader CEMM.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
št. Evidenčna št. Naziv Obdobje Vodja Štev. publikacij
1.  I0-0005  Infrastrukturni program Instituta Jožef Stefan  1.1.2015 - 31.12.2021  dr. Miran Čeh  4.101 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacij
1.  0106  Institut "Jožef Stefan"  Ljubljana  5051606000  90.834 
Zahtevana je potrditev
Zgodovina ogledov
Priljubljeno