Oprema
Oprema za tunelsko in tipalno mikroskopijo
Mikroskop na atomsko silo - AFM je namenjen tako osnovni karakterizaciji kot tudi bolj specifičnim meritvam lastnosti površin, nanomaterialov, elektronskih naprav, bioloških molekul ipd. Omogoča delovanje v kontaktnem in tiplanem načinu, meritve faz in lateralnih sil, mikroskopijo magnetnih sil. FAST STM je nadgradnja za tunelski mikroskop, ki omogoča hitro slikanje, do 50 Hz na sliko (frame rate). Nadgradnja omogoča slikanje dinamičnih procesov, ki so za 3 rede velikosti hitrejši kot običajno, s čimer odpira možnosti za dodaten vpogled v hitro dinamiko. Optična zakasnitvena linija omogoča uravnavanje zamikov svetlobnih sunkov v kombinaciji s hitrim STM.
Skrbnik opreme:
dr. Dragan D. Mihailović
Oprema je dostopa po predhodnem dogovoru. Za uporabo zahtevnejše opreme je omogočeno šolanje. Cena storitev je odvisna od zahtevnosti meritev. Kontakt damjan.svetin@ijs.si
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1)
Legenda
Organizacije (1)
| št. |
Evidenčna št. |
Razisk. organizacija |
Kraj |
Matična številka |
Štev. publikacijŠtev. publikacij |
| 1. |
0106 |
Institut "Jožef Stefan" |
Ljubljana |
5051606000 |
90.834 |
