Filtri
cris logo
-
Novo iskanje Filtri
Izberi iz seznama
Prikazano od Prikaži več
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Za izvedeno iskanje ni na voljo rezultatov
Prikazano od
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Nalaganje rezultatov
Pridobivanje statističnih podatkov

Oprema vir: ARIS

Visokoločljivi vrstični elektronski mikroskop FE SEM SIRION 400 NC z EDX mikroanalizatorjem

Uredi
Namembnost opreme
Sirion FEG je visokoločljivostni vrstični elektronski mikroskop s poljsko emisijo elektronov. Opazujemo in analiziramo lahko delce v nanometrskem območju. Sirion ima Schottky-jev izvor elektronov, kjer dobimo s poljsko emisijo elektronov curek z majhnim premerom in veliko gostoto. Rezultat je visoka ločljivost, tudi pri majhnih napetostih: 1,0 nm pri 15 kV ali 2,0 nm pri 1 kV. Mikroskop je opremljen za mikrokemično analizo z energijsko disperzijskim spektrometrom EDS Oxford INCA 350. Omogoča kvalitativno in kvantitativno mikrokemično analizo v točki in na ploskvi, ter kvalitativno linijsko analizo in ploskovno porazdelitev elementov. Analiziramo lahko elemente od berilija naprej.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme: dr. Franc Zupanič
Spletni naslov: http://www.fs.um.si/raziskovanje/raziskovalna-oprema/
Uporaba je možna po pedhodnem naročilu in ne vključuje stroškov materiela.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
št. Evidenčna št. Naziv Obdobje Vodja Štev. publikacij
1.  P2-0120  Tehnologije metastabilnih materialov s kovinsko osnovo  1.1.2004 - 31.12.2008  dr. Ivan Anžel  3.777 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacij
1.  0795  Univerza v Mariboru, Fakulteta za strojništvo  Maribor  5089638010  23.917 
Zahtevana je potrditev
Zgodovina ogledov
Priljubljeno