Filtri
cris logo
-
Novo iskanje Filtri
Izberi iz seznama
Prikazano od Prikaži več
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Za izvedeno iskanje ni na voljo rezultatov
Prikazano od
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Nalaganje rezultatov
Pridobivanje statističnih podatkov

Oprema vir: ARIS

Vrstični elektronski mikroskop

Uredi
Namembnost opreme
Vrstični elektronski mikroskop JEOL JSM-7600F omogoča slikanje površin vzorcev na podlagi sekundarnih in odbitih elektronov z ločljivostjo do nekja nm. Mikroskop je opremeljen tudi za določevanje kemijske analize materialov na mikronskem področju (EDXS, WDXS), za določevanje kristalne orientacije (EBDS), opremljen pa je tudi za e-litografijo.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme: dr. Boštjan Markoli
Spletni naslov: http://www.ntf.uni-lj.si/ntf/raziskovanje/raziskovalno-delo/raziskovalna-oprema/
Operaterji z licenco rezervirajo termine na mikroskopu preko on-line rezervacijskega sistema Centra za elektronsko mikroskopijo (CEM), ki deluje v okviru Instituta Jožef Stefan v Ljubljani. Mikroskop lahko uporabljajo le izkušeni in predhodno šolani operaterji. Zunanji uporabniki lahko opremo uporabljajo le ob prisotnosti izkušenega oziroma izučenega operaterja.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
št. Evidenčna št. Naziv Obdobje Vodja Štev. publikacij
1.  P1-0195  Geokemijski in strukturni procesi  1.1.2009 - 31.12.2012  dr. Tadej Dolenec  3.965 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacij
1.  1555  Univerza v Ljubljani, Naravoslovnotehniška fakulteta  Ljubljana  1627074  19.956 
Zahtevana je potrditev
Zgodovina ogledov
Priljubljeno