Raziskave in razvoj stekla

Evidenčna št.

L2-0571 (D) - iz evidence ARIS

Vodja

dr. Danilo Suvorov

Obdobje

1.7.1998 - 30.6.2000

Veda

Naravoslovje (1)
Tehnika (5)
Drugi (2)

Status raziskovalca

Raziskovalec (7)
Strokovni ali tehnični sodelavec (1)

Izobrazba

Doktorat znanosti (6)
Magisterij (1)
Drugi (1)

Spol

Ženski (2)
Moški (6)

Status

Zaposlen v RO+RRD (6)
Upokojen (1)
Umrl (1)

Število publikacij

1–9 (2)
100–999 (5)
1.000–9.999 (1)

Projekti / Programi vir: ARIS

vir: ARIS

Raziskave in razvoj stekla

Raziskovalna dejavnost

Koda	Veda	Področje	Podpodročje
2.04.01	Tehnika	Materiali	Anorganski nekovinski materiali

Koda	Veda	Področje
T153	Tehnološke vede	Keramični materiali in praški

Ključne besede

steklo, analiza stekel, tehnologija stekla, ekologija

Vrednotenje (pravilnik)

vir: COBISS

Vrednotenje bibliografskih kazalcev raziskovalne uspešnosti po metodologiji ARIS

Citiranost Citiranost bibliografskih zapisov v COBIB.SI, ki so povezani z zapisi citatnih baz

vir: WoS

vir: Scopus

vir: COBISS

Raziskovalci (8)

št.	Evidenčna št.	Ime in priimek	Razisk. področje	Vloga	Obdobje	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	03937	dr. Miran Čeh	Materiali	Raziskovalec	1998 - 2000	650
2.	15597	dr. Zoran Samardžija	Materiali	Raziskovalec	1998 - 2000	577
3.	08012	dr. Danilo Suvorov	Materiali	Vodja	1998 - 2000	1.050
4.	15600	mag. Maja Šimaga		Raziskovalec	1999 - 2000	5
5.	11093	dr. Srečo Davor Škapin	Kemija	Raziskovalec	1998 - 2000	590
6.	11991	dr. Matjaž Valant	Materiali	Raziskovalec	1998 - 2000	608
7.	15714	Borut Vičič		Raziskovalec	1999 - 2000	5
8.	18824	dr. Kristina Žužek	Materiali	Raziskovalec	1998 - 2000	362

Organizacije (1)

št.	Evidenčna št.	Razisk. organizacija	Kraj	Matična številka	Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.	0106	Institut "Jožef Stefan"	Ljubljana	5051606000	90.742

Povzetek

Pomembna naloga in zahteva steklarske industrije Slovenije, uporabnikov v predloženem projektu, je racionalizacija proizvodnje stekla. Predlagani projekt predvideva razvoj novih metod za mikroskopsko in kemijsko določevanje defektov, nečistoč in nehomogenosti v steklih ter njihovo uvajanje v redno proizvodnjo za kontrolo posameznih faz tehnološkega procesa proizvodnje stekla, kar bo omogočilo doseganje večje učinkovitosti in izkoristka obsoječih tehnoloških procesov.