Filtri
cris logo
-
Novo iskanje Filtri
Izberi iz seznama
Prikazano od Prikaži več
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Za izvedeno iskanje ni na voljo rezultatov
Prikazano od
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Nalaganje rezultatov
Pridobivanje statističnih podatkov

Projekti / Programi vir: ARIS

Študij tankih kovinskih filmov na pospeševalniku Elettra

Uredi
Raziskovalna dejavnost

Koda Veda Področje Podpodročje
1.02.01  Naravoslovje  Fizika  Fizika kondenzirane materije 

Koda Veda Področje
P250  Naravoslovno-matematične vede  Kondenzirane snovi: struktura, termične in mehanske lastnosti, kristalografija, fazno ravnovesje 
P260  Naravoslovno-matematične vede  Kondenzirane snovi: elektronska struktura, električne, magnetne in optične lstnosti, supraprevodniki, magnetna rezonanca, relaksacija, spektroskopija 
Ključne besede
Fizika površin, sinhrotronsko sevanje, rentgenski uklon, elektronska spektroskopija, tanki filmi
Vrednotenje (pravilnik)
vir: COBISS
Vrednotenje bibliografskih kazalcev raziskovalne uspešnosti po metodologiji ARIS
Citiranost Citiranost bibliografskih zapisov v COBIB.SI, ki so povezani z zapisi citatnih baz
vir: WoS vir: Scopus vir: COBISS
Raziskovalci (2)
št. Evidenčna št. Ime in priimek Razisk. področje Vloga Obdobje Štev. publikacij
1.  11546  dr. Dean Cvetko  Fizika  Vodja  2002 - 2004  208 
2.  15703  dr. Janez Kovač  Elektronske komponente in tehnologije  Raziskovalec  2002 - 2004  686 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacij
1.  0106  Institut "Jožef Stefan"  Ljubljana  5051606000  91.653 
Povzetek
Raziskovalni projekt obsega eksperimentalne raziskave na področju fizike površin in tankih filmov s komplementarno uporabo sinhrotronske svetlobe na pospeševalniku Elettra in konvencionalnega laboratorija za sipanje He atomov na površinah. Projekt predvideva študij strukture, kolektivne dinamike, elektronskih stanj in morfologije tankih filmov na žarkovnih linijah ALOISA in ESCAMICROSCOPY na tržaškem sinhrotronu ELETTRA, kakor tudi meritve sipanja termičnih atomov He na in-situ pripravljenih nanometričnih filmih. Posebno pozorno nameravamo proučiti rast tankih filmov železa, svinca, kositra, in indija na različnih polprevodniških in kovinskih substratih, kjer kvantizacija elektronskih stanj znotraj filma in strukneujemanje s substratom igrata pomembno vlogo. Uporabiti nameravamo metodo sipanja rentgenskih žarkov in uklon fotoelektronov v okviru raziskav na Aloisi, oziroma neelastično sipanje termičnih helijevih atomov v okviru laboratorija TASC-INFM. Spektromikroskopske meritve faznih mej na heterogenih sistemih nameravamo opraviti na žarkovni liniji Escamicroscopy.
Zahtevana je potrditev
Zgodovina ogledov
Priljubljeno