Filtri
cris logo
-
Novo iskanje Filtri
Izberi iz seznama
Prikazano od Prikaži več
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Za izvedeno iskanje ni na voljo rezultatov
Prikazano od
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Nalaganje rezultatov
Pridobivanje statističnih podatkov

Projekti / Programi vir: ARIS

Modeliranje in analiza optoelektričnih lastnosti sončnih celic in fotonapetostnih modulov

Uredi
Raziskovalna dejavnost

Koda Veda Področje Podpodročje
2.03.03  Tehnika  Energetika  Obnovljivi viri in tehnologije 

Koda Veda Področje
T140  Tehnološke vede  Energijske raziskave 
Ključne besede
sončne celice, optoelektrične lastnosti, lastnosti površin, modeliranje, meritve
Vrednotenje (pravilnik)
vir: COBISS
Vrednotenje bibliografskih kazalcev raziskovalne uspešnosti po metodologiji ARIS
Citiranost Citiranost bibliografskih zapisov v COBIB.SI, ki so povezani z zapisi citatnih baz
vir: WoS vir: Scopus vir: COBISS
Raziskovalci (2)
št. Evidenčna št. Ime in priimek Razisk. področje Vloga Obdobje Štev. publikacij
1.  18180  dr. Kristijan Brecl  Energetika  Raziskovalec  2003 - 2004  151 
2.  03334  dr. Franc Smole  Energetika  Vodja  2003 - 2004  372 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacij
1.  1538  Univerza v Ljubljani, Fakulteta za elektrotehniko  Ljubljana  1626965  27.774 
Povzetek
V predlaganem projektu bo obstoječi enodimenzionalni optični model za simulacijo amorfnosilicijevih sončnih celic nadgrajen za analizo v treh dimenzijah. Simulirane bodo mikrokristalne silicijeve (mc-Si) strukture, hrapave monokristalne silicijeve (c-Si) ali multikristalne (mc-Si) strukture in heterospojne a-Si/c-Si ali a-Si/mc-Si strukture. Optoelektrične lastnosti polikristalne sončne celice in amorfnosilicijeve/polikristalnosilicijeve (a-Si/mc-Si) heterostrukturne sončne celice bodo tudi eksperimentalno raziskane. Razvite bodo spremljajoče karakterizacijske metode za eksperimentalno preverjanje verodostojnosti razvitega optičnega modela.
Zahtevana je potrditev
Zgodovina ogledov
Priljubljeno