Filtri
cris logo
-
Novo iskanje Filtri
Izberi iz seznama
Prikazano od Prikaži več
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Za izvedeno iskanje ni na voljo rezultatov
Prikazano od
Dosegli ste najvišje možno število prikazanih rezultatov iskanja.
Prikazani so vsi rezultati
Nalaganje rezultatov
Pridobivanje statističnih podatkov

Projekti / Programi vir: ARIS

Elektronska mikroskopija ploskovnih napak in mej v keramiki

Uredi
Raziskovalna dejavnost

Koda Veda Področje Podpodročje
2.04.01  Tehnika  Materiali  Anorganski nekovinski materiali 

Koda Veda Področje
T153  Tehnološke vede  Keramični materiali in praški 
Ključne besede
elektronska mikroskopija, planarne napake, meje med zrni, elektronska keramika
Vrednotenje (pravilnik)
vir: COBISS
Vrednotenje bibliografskih kazalcev raziskovalne uspešnosti po metodologiji ARIS
Citiranost Citiranost bibliografskih zapisov v COBIB.SI, ki so povezani z zapisi citatnih baz
vir: WoS vir: Scopus vir: COBISS
Raziskovalci (8)
št. Evidenčna št. Ime in priimek Razisk. področje Vloga Obdobje Štev. publikacij
1.  06627  dr. Slavko Bernik  Materiali  Raziskovalec  1998 - 2001  620 
2.  03937  dr. Miran Čeh  Materiali  Vodja  1998 - 2001  650 
3.  05216  Medeja Gec    Raziskovalec  1998 - 2001  42 
4.  20825  Boštjan Kaltnekar    Raziskovalec  1998 - 2001  0 
5.  10083  dr. Aleksander Rečnik  Kemija  Raziskovalec  1998 - 2001  651 
6.  15597  dr. Zoran Samardžija  Materiali  Raziskovalec  1998 - 2001  577 
7.  19030  dr. Sašo Šturm  Materiali  Raziskovalec  1998 - 2001  648 
8.  04295  Jarmila Wernig    Raziskovalec  1998 - 2001  2 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacij
1.  0106  Institut "Jožef Stefan"  Ljubljana  5051606000  90.664 
Povzetek
Interne meje v polikristalinični elektronski keramiki določajo električne lastnosti. Predlagani projekt predvideva strukturno in kemijsko analizo ploskovnih napak in mej v zemljoalkalijskih titanatih, dopirani Ba(RE)O3 keramiki in kompleksnih perovskitih s transmisijsko in analizno elektronsko mikroskopijo. Poznavanje mehanizmov nastanka ploskovnih napak in narave mej med zrni ter spoznanja o vplivu internih mej na razvoj mikrostrukture bo omogoeilo razvoj boljših materialov.
Zahtevana je potrditev
Zgodovina ogledov
Priljubljeno