Nalaganje ...
Projekti / Programi vir: ARIS

Infrardeča spektroskopska analiza materialov za moderne tehnologije

Raziskovalna dejavnost

Koda Veda Področje Podpodročje
2.09.06  Tehnika  Elektronske komponente in tehnologije  Karakterizacija elektronskih komponent in materialov 

Koda Veda Področje
P260  Naravoslovno-matematične vede  Kondenzirane snovi: elektronska struktura, električne, magnetne in optične lstnosti, supraprevodniki, magnetna rezonanca, relaksacija, spektroskopija 
T171  Tehnološke vede  Mikroelektronika 
Ključne besede
infrardeča spektroskopija, optična analiza, polprevodniki, dielektrične tanke plasti, pametni senzorji
Vrednotenje (pravilnik)
vir: COBISS
Raziskovalci (2)
št. Evidenčna št. Ime in priimek Razisk. področje Vloga Obdobje Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.  04423  dr. Marta Klanjšek Gunde  Elektronske komponente in tehnologije  Vodja  1998 - 2001  561 
2.  03494  dr. Marijan Maček  Elektronske komponente in tehnologije  Raziskovalec  1998 - 2001  178 
Organizacije (2)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.  0104  Kemijski inštitut  Ljubljana  5051592000  20.916 
2.  1538  Univerza v Ljubljani, Fakulteta za elektrotehniko  Ljubljana  1626965  27.738 
Povzetek
Razvili in uporabili bomo nekontaktno, nedestruktivno in izredno precizno metodo za kemijsko in optično karakterizacijo materialov, ki se uporabljajo v modernih tehnologijah. Metodo bo mogoče uporabiti za opis optičnih lastnosti materiala v infrardečem delu spektra. S predlagano metodo bo mogoče analizirati in vnaprej napovedati tudi termično izmenjavo vzorca z okolico. Posebno pozornost bomo posvetili materialom, ki so primerni za pametne senzorje v tehnologiji “surface micromashininga”, to je sodobne površinske izdelave mikrostruktur.
Zgodovina ogledov
Priljubljeno