Projekti / Programi
Infrardeča spektroskopska analiza materialov za moderne tehnologije
| Koda |
Veda |
Področje |
Podpodročje |
| 2.09.06 |
Tehnika |
Elektronske komponente in tehnologije |
Karakterizacija elektronskih komponent in materialov |
| Koda |
Veda |
Področje |
| P260 |
Naravoslovno-matematične vede |
Kondenzirane snovi: elektronska struktura, električne, magnetne in optične lstnosti, supraprevodniki, magnetna rezonanca, relaksacija, spektroskopija |
| T171 |
Tehnološke vede |
Mikroelektronika |
infrardeča spektroskopija, optična analiza, polprevodniki, dielektrične tanke plasti, pametni senzorji
Raziskovalci (2)
| št. |
Evidenčna št. |
Ime in priimek |
Razisk. področje |
Vloga |
Obdobje |
Štev. publikacij |
| 1. |
04423 |
dr. Marta Klanjšek Gunde |
Elektronske komponente in tehnologije |
Vodja |
1998 - 2001 |
555 |
| 2. |
03494 |
dr. Marijan Maček |
Elektronske komponente in tehnologije |
Raziskovalec |
1998 - 2001 |
178 |
Organizacije (2)
Povzetek
Razvili in uporabili bomo nekontaktno, nedestruktivno in izredno precizno metodo za kemijsko in optično karakterizacijo materialov, ki se uporabljajo v modernih tehnologijah. Metodo bo mogoče uporabiti za opis optičnih lastnosti materiala v infrardečem delu spektra. S predlagano metodo bo mogoče analizirati in vnaprej napovedati tudi termično izmenjavo vzorca z okolico. Posebno pozornost bomo posvetili materialom, ki so primerni za pametne senzorje v tehnologiji “surface micromashininga”, to je sodobne površinske izdelave mikrostruktur.
