SiO[sub]x-prevleke so bile nanesene na steklo iz hexamethylsiloxane prekurzorja s PACVD postopkom. Površinska energija (23.1-45.7 mJ m[sup]{-1}) smo korelirali z stopnjo površinske oksidacije in vsebnostjo ogljikovodikov. Zbrani rezultati kažejo možnost nadaljnjih raziskav teh prevlek za aplikacijo toplotnih izmenjevalcev in optičnih instrumentov.
COBISS.SI-ID: 707754
Priprava vzorcev z ionskim rezanjem je dobro poznana za pripravo vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo. V članku je prikazanod a se ta tehnika lahko uporablja za izdelavo vzorcev različnih vrst za mikro mehanske teste.
COBISS.SI-ID: 797098