Nalaganje ...
Oprema vir: ARIS

Rentgenski fotoelektronski spektometer XPS

Namembnost opreme
Se uporablja za XPS analizo površin trdnih suhih vzorcev.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme: dr. Elena Chernyshova
Za registrirane in šolani in pooblaščeni uporabnike je delo na napravi dostopno preko rezervacijskega sistema. Le ta je urejen glede na delež inštituciji, kateri pripada uporabnik. Kontakt za zunanje uporabnike: dr. Elena Chernyshova.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
št. Evidenčna št. Naziv Obdobje Vodja Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.  P2-0132  Fizika in kemija površin kovinskih materialov  1.1.2019 - 31.12.2027  dr. Matjaž Godec  3.696 
Organizacije (1)
št. Evidenčna št. Razisk. organizacija Kraj Matična številka Štev. publikacijŠtev. publikacij
1.  0104  Kemijski inštitut  Ljubljana  5051592000  23.250 
Zgodovina ogledov
Priljubljeno