Nalaganje ...
Oprema
Masni spektrometer sekundarnih ionov SIMS
Namembnost opreme
TOF–SIMS spektrometer na osnovi masne spektroskopije molekul s površine omogoča precizno analizo elemntne sestave in molekularne strukture površin, tankih plasti in faznih mej organskih in anorganskih trdih materialov, kot so: polimeri, biomateriali, polprevodniki, prevleke, barve, kovine, keramika, steklo, zdravila... Masna ločljivost instrumenta je okoli 10.000, lateralno ločljivostjo je okoli 100 nm in analizna globina 2-3 monoplasti.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme:
dr. Janez Kovač
Uporaba je možna za zunanje uporabnike po predhodnem dogovoru. Kontaktirati dr. Janeza Kovača (janez.kovac@ijs.si, 01 477 3403)
Uporaba je možna za zunanje uporabnike po predhodnem dogovoru. Kontaktirati dr. Janeza Kovača (janez.kovac@ijs.si, 01 477 3403)
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
| št. | Evidenčna št. | Naziv | Obdobje | Vodja | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | P2-0082 | 1.1.2009 - 31.12.2014 | 5.064 |
Organizacije (1)
| št. | Evidenčna št. | Razisk. organizacija | Kraj | Matična številka | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 0106 | Ljubljana | 5051606000 | 95.638 |