Oprema
Dvožarkovni laserski interferometer
Hkratne meritve elektromehanskih in električnih lastnosti tankih dielektričnih plasti in nanostrukturiranih materialov. Laserski žarek, ki zadane vzorec z zgornje in spodnje strani izloči vpliv upogibanja podlage. Sistem omogoča (i) hkratne meritve elektromehanskega raztezka in električne polarizacije pri velikem vzbujevalnem signalu, (ii) meritve piezoelektričnega koeficienta in dielektrične konstante pri majhnem vzbujevalnem signalu, tudi ob pritisnjeni dc napetosti in (iii) meritve utrujanja električnih in elektromehanskih lastnosti.
Skrbnik opreme:
Dostop dovoljen po dogovoru, ni posebnih omejitev. Kontakt: dr. Vid Bobnar, (01) 477-3172, vid.bobnar@ijs.si.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1)
Legenda
Organizacije (1)
| št. |
Evidenčna št. |
Razisk. organizacija |
Kraj |
Matična številka |
Štev. publikacijŠtev. publikacij |
| 1. |
0106 |
Institut "Jožef Stefan" |
Ljubljana |
5051606000 |
95.638 |