Nalaganje ...
Oprema
Visokoločljivi vrstični elektronski mikroskop FE SEM SIRION 400 NC z EDX mikroanalizatorjem
Namembnost opreme
Sirion FEG je visokoločljivostni vrstični elektronski mikroskop s poljsko emisijo elektronov. Opazujemo in analiziramo lahko delce v nanometrskem območju. Sirion ima Schottky-jev izvor elektronov, kjer dobimo s poljsko emisijo elektronov curek z majhnim premerom in veliko gostoto. Rezultat je visoka ločljivost, tudi pri majhnih napetostih: 1,0 nm pri 15 kV ali 2,0 nm pri 1 kV. Mikroskop je opremljen za mikrokemično analizo z energijsko disperzijskim spektrometrom EDS Oxford INCA 350. Omogoča kvalitativno in kvantitativno mikrokemično analizo v točki in na ploskvi, ter kvalitativno linijsko analizo in ploskovno porazdelitev elementov. Analiziramo lahko elemente od berilija naprej.
Dostop do opreme
Skrbnik opreme:
dr. Franc Zupanič
Uporaba je možna po predhodnem naročilu in ne vključuje stroškov materiela.
Uporaba je možna po predhodnem naročilu in ne vključuje stroškov materiela.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1) Legenda
| št. | Evidenčna št. | Naziv | Obdobje | Vodja | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | P2-0120 | 1.1.2004 - 31.12.2008 | 3.955 |
Organizacije (1)
| št. | Evidenčna št. | Razisk. organizacija | Kraj | Matična številka | Štev. publikacijŠtev. publikacij |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 0795 | Maribor | 5089638010 | 24.982 |