Razširitev sistema za optično in električno karakterizacijo fotonskih čipov

Oprema je namenjena za optično in električno karakterizacija fotonskih integriranih gradnikov in raznovrstnih fotonskih integriranih vezij. Dovod in odvod svetlobe do čipa je izveden preko niza enorodovnih optičnih vlaken. Nadgrajena oprema omogoča meritev v širokopasovnem valovnodolžinskem območju s pomočjo supercontinuum laserja NKT DK01-Q019505-2 EVO in optičnih komponent za sklopitev laserske svetlobe v enorodovno optično vlakno. Nadgrajen je tudi mikroskopski sistem za opazovanje meritev in pritrditev čipa z vakumsko črpalko. Električno kontaktiranje (DC in v nadgradnji tudi RF) je izvedeno preko polja namenskih igel.Laserski vir (Santec TSL 570-P, 1480 - 1640 nm, NKT DK01-Q019505-2 EVO), merilnik optične moči (Santec MPM-211-04-F, Santec OPM 200), optični spektralni analizator (YokogawaAQ6370D), analizator polarizacije (Keysight N7781C), avt. merilni sistem s programskoo opremo (MLP SD100) in ostala dodatna oprema.

Skrbnik opreme: dr. Janez Krč
Zunanji uporabnik vzpostavi kontakt z odgovorno osebo: Janez Krč (janez.krc@fe.uni-lj.si. 01 4768 843). Odgovorna oseba ga seznani spostopkom in pravili uporabe opreme ter plačilom. Skupaj presodita, če je oprema ustrezna za načrtovane meritve. Nato odgovorna osebapoveže uporabnika s skrbnikom in upravljalcem opreme (Andraž Debevc). Dogovorijo se za možen termin uporabe.