Oprema
Vrstični elektronski mikroskop
Vrstični elektronski mikroskop JEOL JSM-7600F omogoča slikanje površin vzorcev na podlagi sekundarnih in odbitih elektronov z ločljivostjo do nekja nm. Mikroskop je opremeljen tudi za določevanje kemijske analize materialov na mikronskem področju (EDXS, WDXS), za določevanje kristalne orientacije (EBDS), opremljen pa je tudi za e-litografijo.
Skrbnik opreme:
dr. Boštjan Markoli
Operaterji z licenco rezervirajo termine na mikroskopu preko on-line rezervacijskega sistema Centra za elektronsko mikroskopijo (CEM), ki deluje v okviru Instituta Jožef Stefan v Ljubljani. Mikroskop lahko uporabljajo le izkušeni in predhodno šolani operaterji. Zunanji uporabniki lahko opremo uporabljajo le ob prisotnosti izkušenega oziroma izučenega operaterja.
Raziskovalni in infrastrukturni programi ARIS (1)
Legenda
Organizacije (1)